Быкова Марина Борисовна

Уполномоченный по качеству кафедры МППиД, Вед. инженер программист, секретарь ГАК

+74956384560

Аудитория: К-416

Научные достижения и работы

Список публикаций:

# Название публикации Авторы Журнал Год Выпуск-Номер-Страницы
1 Point defects and dichroism in langasite and langatate crystals Kozlova N.S., Zabelina E.V., Kozlova A.P., Bykova M.B., Busanov O.A. Crystallography Reports. 2016 – V. 61. – №. 2. – P. 275-284.
2 Optical properties of lanthanum-gallium tantalate associated with the conditions of preparation and postgrowth processing Kozlova N.S., Zabelina E.V., Bykova M.B., Kozlova A.P., Siminel N.A., Buzanov O.A. Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics 2014 – V. 78. – №. 11. – P. 1227-1231.
3 Исследования монокристаллов СаMoO4 с низким остаточным поглощением Козлова Н.С., Бузанов О.А., Быкова М.Б., Забелина Е.В., Корноухов В.Н., Козлова А.П., Черных А.Г. Известия ВУЗОВ. Материалы Электронной Техники. 2014 – №. 3. – С. 168-173.
4 Обеспечение измерений оптических свойств монокристаллов и заготовок на их основе стандартными образцами предприятия Быкова М.Б., Гореева Ж.А., Диденко И.С., Козлова Н.С., Сидорин В.В. Известия ВУЗОВ. Материалы Электронной Техники. 2013 – №. 1. – С. 18-22.
5 Применение стандартных образцов предприятия в аккредитованной испытательной лаборатории Быкова М.Б., Гореева Ж.А., Диденко И.С., Козлова Н.С., Сидорин В.В. Стандартные Образцы. 2013 – №. 4. – С. 46-50.
6 Оценка результативности СМК лаборатории Гореева Ж.А., Быкова М.Б., Диденко И.С., Козлова Н.С. Методы Оценки Соответствия. 2012 – №. 2. – С. 40-41.
7 Formation of radiation-induced point defects in silicon doped thin films upon ion implantation and activating annealing Bublik V.T., Shcherbachev K.D., Komarnitskaya E.A., Parkhomenko Yu.N., Vygovskaya E.A., Evgen'ev S.B. Crystallography Reports. 1999 – V. 44. – №. 9. – P. 1035-1041.

Объекты интеллектуальной собственности

# Наименование
объекта
интеллектуальной
собственности
Вид объекта Дата приоритета Номер Дата выдачи Авторы
1 Оптические материалы. Методика измерения оптического качества методом Малляра Ноу-Хау 25.11.2014 37-391-2014 25.11.2014 Козлова Н.С., Козлова А.П., Быкова М.Б., Диденко И.С., Забелина Е.В., Черных А.Г.
2 Методика измерений оптического качества кристаллов методом фотометрии Ноу-Хау 09.10.2013 96-391-2013 09.10.2013 Козлова Н.С., Быкова М.Б., Диденко И.С., Козлова А.П.